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GB_T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga：和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
2024-12-11
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GB_T 2423.16-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
2024-12-11
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GB_T 2423.18-2021 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
2024-12-11
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GB_T 5170.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法 振動(dòng)(隨機(jī))試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
2024-12-11
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GB_T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧
2024-12-11
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GB_T 2423.10-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)
2024-12-11
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GB_T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—一般要求
2024-12-11
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GB_T 2423.20-2014 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)
2024-12-11
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GB_T 2423.24-2022 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)S：模擬地面上的太陽(yáng)輻射及太陽(yáng)輻射試驗(yàn)和氣候老化試驗(yàn)導(dǎo)則
2024-12-11
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GB_T 2423.28-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)T
2024-12-11
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